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本发明为一种可控硅失效检测与保护方法：包括如下步骤：步骤一：将可控硅放置到视觉检测设备中进行静态拍摄照片，用以判断其外观是否完整；步骤二：将完整的可控硅放置到检测台中，在阴极和阳极接入电压并反向连接时，观察导通状态；步骤三：将步骤二中不能够导通的可控硅使其保持控制极开路，然后在阳极和阴极间接入电压，并正向连接，观察导通状态；步骤四：将步骤三中不导通的可控硅在其控制极加上正向电流，同时给阴极和阳极加正向电压时，观察导通状态，随后将能够导通的可控硅去掉控制级电流，再次观察导通状态，若处于导通，则可控
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117825903A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202310023387.1
(22)申请日2023.01.04
(71)申请人浙江柳晶整流器有限公司
地址3
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