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本发明公开了一种伪栅阵列DEMOS器件及其制作方法。本发明中的伪栅阵列DEMOS器件包括硅衬底、阱区、源区、漏区、漂移区、伪栅阵列结构和栅极结构;在硅衬底上设有阱区和漂移区;所述栅极结构覆盖部分阱区和部分漂移区;所述源区与所述栅极结构的第一侧自对准;所述伪栅阵列结构由多个伪栅结构组成,且均位于所述漂移区上方,用于调漂移区的电场;所述漏区与远离所述栅极结构的伪栅结构的第二侧自对准。本发明设计了伪栅阵列DEMOS器件,该器件通过在漂移区上方增加伪栅阵列,并给予伪栅不同的偏置电压,可以有效调控器件漂移
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117832274A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202311772058.3
(22)申请日2023.12.21
(71)申请人浙江大学
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