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本发明的目的是要提供一种叠层高频测试装置，解决了半导体产品检测位置确定的问题，包括振动盘，与振动盘相连设置的有直振轨道，直振轨道的出料端设置有入料机构，所述直振轨道两侧分别设置有挡板和气管，所述挡板贴合所述直振轨道延伸方向设置，所述气管的出气口对准所述直振轨道，所述直振轨道上方设置有摄像头，所述气管的喷气路径位于所述摄像头拍摄范围内，由于从振动盘出来的半导体产品，排列在直振轨道上，但是半导体产品有多个面，只能借着气管向半导体产品吹气，使半导体产品在直振轨道上翻转，当摄像头拍到定位面时，就停止吹气
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117840064A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311858626.1B07C5/38(2006.01)
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