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2024-04-10 发布于四川
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半导体晶片及序列检查电路.pdf

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一种半导体晶片及序列检查电路，半导体晶片包含一物理层以及一处理电路。该物理层包含一输入输出电路、至少一序列检查电路以及至少一信号传输路径，其中该至少一序列检查电路用以根据经由该输入输出电路传输的一时脉信号以及经由该至少一信号传输路径传输的至少一测试数据信号产生至少一测试结果信号。该处理电路电性耦接于该物理层，并用以根据该至少一测试结果信号的电压位准判断该至少一信号传输路径的运作状态。通过对测试数据信号的每个数据值检查至少一次，序列检查电路能大幅减少正反器的使用数量，以缩减电路面积。此外，半导体晶

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117854575A

(43)申请公布日2024.04.09

(21)申请号202211210768.2

(22)申请日2022.09.30

(71)申请人创意电子股份有限公司

地址中国

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