一种集成电路用测试设备.pdfVIP

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本发明属于集成电路测试设备技术领域,具体的说是一种集成电路用测试设备,包括底座;所述底座顶部通过圆槽固接有第一电机;所述第一电机的输出端设有转动杆;所述转动杆的顶端固接有转盘;所述转盘顶部开设有一组沿第一电机十字对称分布的放置槽,且放置槽截面为L形;所述底座顶部两侧分别固接有第二电机和第一固定块;以解决通过向检测设备上放置多个集成电路然后依次进行检测的方式提高测试效率,但此种测试需要一次放置多个集成电路,待测试完成之后将其收集,依次完成此操作,因此,此种方式依然无法做到同步完成放置集成电路、测试

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117849577A

(43)申请公布日2024.04.09

(21)申请号202311710571.X

(22)申请日2023.12.13

(71)申请人安徽蓝宇信息科技有限公司

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