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本发明属于应力测量技术领域，公开了一种FPGA电路老化应力的综合表示方法及系统，对测量得到的逻辑资源占空比SP和翻转率SA老化应力数据，进行数据预处理，分别得到可用于综合表示的SPprop和SAprop；根据得到的老化应力数据，分别对其进行状态分析；利用老化应力综合表示查找表来计算最终的老化应力。本发明综合考虑BTI效应和HCI效应对FPGA电路的影响，以帮助设计人员在设计流程的早期阶段选择适当的老化缓解方法，以延长FPGA使用寿命。该方法通过设置合理的应力阈值因子，将BTI效应和HCI效应对电
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117852453A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202410040564.1G06F119/02(2020.01)
(22)申请日2024.01
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