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本发明公开了一种航天电子产品的加热驱动测试装置和方法，包括选通控制单元和可编程电子负载；选通控制单元连接待测设备；选通控制单元通过加热正线和加热回线连接可编程电子负载；工控机与待测设备、选通控制单元和可编程电子负载通过通讯串口进行连接；选通控制单元用于根据上位机指令选通指定加热路数，加热驱动输出至可编程电子负载后，通过工控机回读电子负载状态，若电子负载处于目标功率工作状态则该路加热驱动正常。能够满足不同电压、功率的自动化加热驱动测试需求。尤其是在热真空试验中无需将加热驱动信号从试验箱中全部引出，
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117849506A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202410020923.7
(22)申请日2024.01.05
(71)申请人西安微电子技术研究所
地址71
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