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本发明涉及图像数据处理技术领域，具体涉及一种用于电路板印刷的曝光优化方法，该方法包括：采集电路板显影图像；获取标准参考图像，对电路板显影图像与标准参考图像进行匹配，获得匹配图像块；根据匹配图像块与标准参考图像之间的差异获得缺陷区域；根据缺陷区域中像素点之间的距离获得电路板缺陷特征权重；划分映射方向，根据像素点在各映射方向的灰度值获取缺陷特征清晰指数；根据各像素点的灰度值获取电路板显影模糊系数；根据电路板显影模糊系数以及缺陷特征清晰指数获取各缺陷区域的缺陷差异特征；根据缺陷差异特征获得缺陷区域的缺
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117876368A
(43)申请公布日2024.04.12
(21)申请号202410269942.3
(22)申请日2024.03.11
(71)申请人成都唐源电气股份有限公司
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