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光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法

1范围

本文件规定了光伏封装胶膜表面粗糙度测试方法的仪器设备、试样制备、测试步骤、结果处理以及

测试报告。

本文件适用于光伏组件封装胶膜的表面粗糙度测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T1031产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法表面粗糙度参数及其数值

GB/T3505产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法术语、定义及表面结构参数

GB/T10610—2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法

3术语和定义

GB/T3505界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

轮廓算术平均偏差arithmeticalmeandeviationofprofile

Ra

表征取样范围内纵向凹凸偏差的整体平均水平值。

注：类似于平均值的概念。

3.2

轮廓最大高度maximumheightofprofile

Rz

表征取样范围内纵向波峰和波谷间距的最大值。

注：类似于极差的概念。

3.3

轮廓单元的平均宽度meanwidthoftheprofileelements

Rsm

表征取样范围内横向波峰波谷间距的平均值。

4仪器设备

粗糙度测试仪：量程要求达到360μm，粗糙度测试仪准确度0.02μm。

5试样制备

1

从整卷密封胶膜样品中取胶膜整宽幅×100cm大小的胶膜样品，样品需保持平整不能有褶皱；样品

表面花纹清晰，不能有表面划痕、气孔、杂质、凸起等影响测量结果的缺陷或者测量时避开此类缺陷。

6测试步骤

提前将测试环境设置在温度23℃±2℃，湿度50%±5%条件下，保持1h。

粗糙度测试仪使用前需进行校准，采用仪器自带的粗糙度标准样板和校准要求，测量示值误差应满

足设备出厂技术标准要求，确保测量数据的精确性。

按照GB/T10610—2009设置粗糙度测试仪截止波长2.5mm，即粗糙度取样长度2.5mm，粗糙度测

量长度12.5mm。

把需要测量的胶膜，组件层压时与玻璃接触的面朝上，平铺在平整的桌面上。以大理石或其他没有

弹性的桌面最佳。

按照胶膜宽幅方向(TD)等距离的取5个点作为测量点（图1中a到a），同时在胶膜长度方向（MD）15

间隔50cm再取5个点（图1中b到b），分别标定位置，为确认胶膜粗糙度在长度方向保持稳定，可15

在MD方向间隔一定距离追加测试组，见图1。

·····

a1a2a3a4a5

MD50cm

·····

b1b2b3b4b5

TD

注：箭头方向为测量时探针移动方向。

图1取点示意图

把粗糙度测试仪的探针放置在测量点上，仪器按照图1中箭头所示方向分别沿TD和MD方向放置，

确保探针能够按照箭头方向移动方向。按开始键进行测量,其中每一个起始测量点用粗糙度测试仪沿胶

膜TD和MD方向分别测试一次，每一个测量点沿TD和MD平移的粗糙度数值即仪器显示的Ra、Rz、Rsm

结果，数值统一修约到个位数，记录整数。

光伏封装胶膜表面粗糙度参考值参照附录A。

7测试结果处理

7.1第一组测量点，按a到a依次记录MD和TD测试结果Ra、Rz、Rsm共10组