仪器分析：第六章 原子光谱法 原子发射光谱法.ppt

*2.分光系统（1）平面反射光栅的分光系统主要用于单通道仪器，每次仅能选择一条光谱线作为分析线，检测一种元素。*（2）凹面光栅分光系统实现多道多元素的同时检测。*（3）中阶梯平面反射光栅的分光系统中阶梯光栅与棱镜结合使用，形成了二维光谱，配合阵列检测器，可实现多元素的同时测定，且结构紧凑，已出现在新一代原子发射光谱仪中。*3.进样系统电弧、电火花及激光为光源的发射光谱仪器：主要分析固体试样。试样放在电极中。ICP光源：将试样制备成溶液后进样。溶液进样装置：见图，雾化、蒸发、原子化。*4.检测器光电倍增管和阵列检测器两类。*检测器光谱级-波长二维光谱*5.仪器主要类型（1）光电直读等离子体发射光谱仪利用光电法直接获得光谱线的强度。两种类型：多道固定狭缝式和单道扫描式。*（2）全谱直读等离子体光谱仪采用CID或CCD阵列检测器，可同时检测165～800nm波长范围内出现的全部谱线。多采用中阶梯光栅加棱镜分光系统。28×28mmCCD芯片上，可排列26万个感光点点阵，具有同时检测几千条谱线的能力。**仪器特点:(1)测定每个元素可同时选用多条谱线。(2)可在1min内完成70个元素的定量测定。(3)可在1min内完成对未知样品中多达70多元素的定性。(4)1mL的试样可检测所有可分析元素。(5)扣除基体光谱干扰。(6)全自动操作。(7)分析精度：相对标准偏差(CV)0.5%。*第六章

原子光谱法6.1.1光分析法概述6.1.2原子发射光谱法的基本原理6.1.3原子发射光谱仪器类型与结构6.1.4原子发射光谱分析的应用第一节

原子发射光谱法AtomicspectrometryAtomicemissionspectrometry,AES*6.1.1光分析法概述1.概述基于电磁辐射能量与待测物质（原子或分子）相互作用后，由所产生的辐射信号来确定物质组成和结构的分析方法。电磁辐射范围:射线到无线电波的所有范围；相互作用的方式：发射、吸收、反射、折射、散射、干涉、衍射等。定量-结构信息，具有灵敏度高，选择性好，用途广泛等特点，在研究物质组成、结构表征、表面分析等方面具有其他方法不可取代的地位。*原子吸收能量后由基态跃迁到激发态，引起辐射光强度改变，而位于激发态的原子跃迁回到基态时，发射出该元素的特征光谱。吸收-发射：光与原子间相互作用的两个过程。原子光谱分析法，基于原子外层电子跃迁。原子吸收光谱（atomicabsorptionspectrometry,AAS）原子发射光谱（atomicemissionspectrometry,AES）原子荧光光谱（atomicfluorescencespectrometry,AFE）基于原子内层电子跃迁的分析方法：X射线荧光光谱（X-rayfluorescencespectrometry,XRF）俄歇电子能谱法（Augerelectronspectrometry,AES）*概述：AES原子发射光谱分析法（AES）：元素在受到热或电激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出特征光谱，依据特征光谱进行定性、定量的分析方法。1859年，基尔霍夫、本生研制第一台用于光谱分析的分光镜，实现了光谱检验；1930年以后，建立了光谱定量分析方法；20世纪60年代，AAS出现，作用下降。20世纪70年代，新光源(ICP)的出现，作用又加强。*2.原子发射光谱分析法的特点(1)可多元素同时检测:发射各自的特征光谱；(2)分析速度快:试样不需处理，同时对几十种元素进行定量分析。(3)选择性高各元素具有不同的特征光谱；(4)检出限较低：10～0.1?g?g-1(一般)；ng?g-1(ICP）。(5)准确度较高：5%～10%(一般光源)；<1%(ICP)。(6)ICP-AES性能优越线性范围4～6数量级，可测高、中、低不同含量试样。缺点：非金属元素不能检测或灵敏度低。*6.1.2原子发射光谱分析的基本原理

1.元素的特征谱线基态元素在受到热（火焰）或电（电火花）激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出特征光谱（线状光谱）。特征辐射基态元素M激发态M*热能、电能?E*原子的共振线与离子的电离线原子由第一激发态到基态的跃迁。第一共振线，最易