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实验内容1.调整光路，学习使用检流计。2.开始测量，转动手轮，使光电探头沿衍射图样展开方向（x轴）单向平移，以等间隔的位移（如0.5mm或1mm等）对衍射图样的光强进行逐点测量,记录位置坐标x和对应的检流计（置适当量程）所指示的光电流值读数I。3．测量单缝到光电池的距离D。
1.搭好实验装置，并接好电源；2.打开激光器，用小孔屏调整光路，使出射的激光束与导轨平行；3.打开检流计电源，预热及调零，并将测量线连接其输入孔与光电探头；4.调节二维调节架，选择所需要的单缝、，对准激光束中心，使之在小孔屏上形成良好的衍射光斑；实验步骤
5.移去小孔屏，调整一维光强测量装置，使光电探头中心与激光束高低一致，移动方向与激光束垂直，起始位置适当；6.开始测量，转动手轮，使光电探头沿衍射图样展开方向（x轴）单向平移，以等间隔的位移（如0.5mm或1mm等）对衍射图样的光强进行逐点测量,记录位置坐标x和对应的检流计（置适当量程）所指示的光电流值读数I，要特别注意衍射光强的极大值和极小值所对应的坐标的测量；实验步骤
7．测量单缝到光电池的距离D。绘制衍射光的相对强度I/I0与位置坐标x的关系曲线。由于光的强度与检流计所指示的电流读数成正比，因此可用检流计的光电流的相对强度i/i0代替衍射光的相对强度I/I0。8．整理仪器。实验步骤
数据记录和处理1.半导体激光器波长λ=nm，D=cm2．记录位置x与光强I的数值。（自己设计表格）
1．统一单位制。2．数据处理。（1）用计算机或坐标纸绘制衍射光的相对强度I/I0与位置坐标x的关系曲线。由于光的强度与检流计所指示的电流读数成正比，因此可用检流计的光电流的相对强度i/i0代替衍射光的相对强度I/I0。（2）单缝宽度的测量。从所得的分布曲线可得各级衍射暗条纹到明条纹中心的距离xk，求出同级距离xk的平均值xk，将λ和D值代入公式（1），计算出单缝宽度，用不同级数（至少三级暗纹）的结果计算平均值。数据记录和处理
注意事项1．激光器光强极高，切勿用眼睛对视，防止对眼睛的伤害。2．测量过程中要防止回程误差。即测量开始前应将鼓轮转到一侧，测量开始时，鼓轮只能沿一个方向转动，如果反向，数据无效，必须重新调整开始测量。3．保护光学元件的光学表面，不能随意用手触摸表面。4.测量过程中检流计要注意换挡。要保证读数为三位有效数字，若不足三位要降低一档。检流计读数为1999时为超量程，要升高一档
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