防爆安全车胎[4].docxVIP

102608431B(19)中华人民共和国国家知识产权局

102608431B

(12)发明专利

(10)授权公告号CN102608431B

(45)授权公告日2014.01.29

(21)申请号201210063977.9

(22)申请日2012.03.12

(73)专利权人浙江大学

地址310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号

(72)发明人倪尔瑚倪郁青朱永花

(74)专利代理机构杭州求是专利事务所有限公司33200

代理人张法高

(51)Int.Cl.

GO?R27/26(2006.01)

HO?P7/00(2006.01)

(56)对比文件

CN101158702A,2008.04.09,

CN101034116A,2007.09.12,

CN101105512A,2008.01.16,

CN1120165A,1996.04.10,

CN1560959A,2005.01.05,

CN101187683A,2008.05.28,

EP1903631A1,2008.03.26,

F.HORNERetal..RESONANCE

METHODSOFDIELECTRICMEASUREMENTAT

CENTIMETREWAVELENGTHS.《IETJournals

Magazines》.1946,第53-68页.

徐江峰等.截止波导介质腔介电常数测量理论与方法研究.《仪器仪表学报》.2006,第27卷(第10期),第1322-1325页.

审查员张曼

权利要求书2页说明书7页附图2页

(54)发明名称

1GHz～8GHz同轴线-介质圆波导谐振腔及

介电参数测试方法

(57)摘要

本发明公开了一种用于1GHz～8GHz电介质

测量的同轴线-介质圆波导谐振腔及测试方法。

由外导体、内导体和轴向可移动探针构成空气同

轴测量线的一端设有行程为100mm的可调节短路

器，可调节短路器上设有输入耦合环；同轴测量

线另一端内导体与金属短路板的间隔处设有圆柱

介质样品，它与同轴线外导体构成介质圆波导。

利用同轴线中的TEM波和样品中的TM?波组合

谐振，求取材料的复介电常数。本发明克服了在

同轴线中制备和插入紧密配合的圆环状样品的困

难，而且实现了样品中电磁场分布与样品尺寸及

工作频率无关，以及样品径向尺寸与金属壁的配

合误差不再是引起测量不确定性的主要因素。可

以测量相对介电常数1～100(或更高)的介质材

飞料。

1/2页CN102608431B权利要

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CN102608431B

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1.一种1GHz～8GHz的同轴线-介质圆波导谐振腔的介电参数测试方法，其特征是：采用1GHz～8GHz频段用于电介质测量的同轴线-介质圆波导谐振腔的测量装置，利用最低次波模谐振，使同轴线中仅有TEM导行波和TM?消逝波，介质中只存在TM??消逝波或导行波；用测量第一个波节到圆柱介质样品表面的距离和电压驻波比，求材料在TM??模下的e和tanδ,方法的具体步骤如下：

(1)测量谐振下的第一个波节到圆柱介质样品表面的距离1。:

在给定频率v,下，放入圆柱介质样品(6),可调节短路器(4)达到腔体谐振，记下同轴线-介质圆波导状态时可调节短路器(4)的读数L,用金属短路板(7)取代圆柱介质样品(6),再次调节可调节短路器(4),使在相同频率下重新谐振，记下同轴线-短路板状态时可调节短路器(4)读数L?,得出第一个波节到圆柱介质样品表面的距离为：

l?=c/(2v)-(L?-L?)(1)

这里，c是空气中的光速，

(2)测量谐振下的电压驻波比s:

用接到输出探针的传感器-微波功率计，移动空气同轴测量线上的可移动探针(3),测定同轴线-介质圆波导状态时在上述谐振频率v,下驻波峰值和谷值的功率计读数Pm和Pmin,有

S?=(Pmn/P()1/2(2)

用金属短路板(7)取代圆柱介质样品(6),调节可调节短路器(4),使在相同频率下重新谐振，再次移动空气同轴测量线上的可移动探针(3),测定同轴线-短路板状态下的驻波峰值和谷值的功率计读数P和Potn,有

S?=(Pomin/Po)1/2(3)

得由圆柱介质样品引起的电压驻波比为：

s=s?-s?·2v,l?/c