基于光线模型的成像系统标定与三维测量进展.pdfVIP

第59卷第14期/2022年7月/激光与光电子学进展封面文章·特邀综述

基于光线模型的成像系统标定与三维测量进展

1，2*1，21，21，21，21，21，2，3

刘晓利，杨洋，喻菁，缪裕培，张小杰，彭翔，于起峰

1深圳大学物理与光电工程学院深圳市智能光测与感知重点实验室，广东深圳518060；

2光电子器件与系统教育部重点实验室，广东深圳518060；

3国防科技大学空天科学学院，湖南长沙410073

摘要标定是成像系统执行精准视觉测量的基础，其目的在于确立三维空间物点与传感平面像点的映射关系。区别于

传统的小孔透视模型，主要介绍一种光线模型用于对成像系统的标定与测量。