《汽车控制芯片电特性测试方法》标准文本附编制说明.pdf

ICS

CCS

团体标准

T/CSAExx－20xx

汽车控制芯片电特性测试方法

Testmethodsforelectricalcharacteristicsofautomotivecontrolchips

（征求意见稿）

在提交反馈意见时，请将您知道的该标准所涉必要专利信息连同支持性文件一并附上。

DraftingguidelinesforcommercialgradesstandardofChinesemedicinalmaterials

20xx-xx-xx发布20xx-xx-xx实施

中国汽车工程学会发布

T/CSAExxx—xxxx

目次

前言II

1范围3

2规范性引用文件3

3术语、定义和缩略语3

4芯片的基本结构3

5电特性测试条件4

5.1工作电压4

5.2测试环境4

5.3其它条件4

6测试方法4

6.1管脚电特性参数测试4

6.2CPU测试8

6.3存储测试13

6.4接口测试16

6.5安全模块测试19

附录A（资料性）电特性测试结果示例21

附录A

I

T/CSAExxx-20xx

汽车控制芯片电特性测试方法

1范围

本文件规定了汽车控制芯片（以下简称为芯片）的基本结构及其电特性的测试条件和测试方法。

本文件适用于汽车控制芯片的电特性测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

3术语和定义

本文件没有需要界定的术语和定义。

4缩略语

下列缩略语适用于本文件。

ADC：模拟数字转换器（AnalogtoDigitalConverter）

CAN：控制器局域网（ControllerAreaNetwork）

CPU：中央处理单元（CentralProcessingUnit）

DAC：数字模拟转换器（DigitaltoAnalogConvertor）

DUT：被测器件（DeviceUnderTest）

LIN：局部连接网络（LocalInterconnectNetwork）

PMU：精密测量单元（PrecisionMeasurementUnit）

5芯片的基本结构

5.1芯片的基本结构包括CPU、存储模块、安全模块、接口模块等，见图1。

3

T/CSAExxx—xxxx

图1芯片基本结构图

5.2CPU，用于执行汽车控制所需的任务，有单核和多核两种配置。单核是指CPU仅包含一个核，每次

仅处理一项任务。多核是指CPU至少包含2个核，每个核独立执行任务，多核之间可以协