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图像缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

图像缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

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    本发明公开了一种图像缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括对待检测图像进行滤波处理，得到第一图像，对第一图像进行筛选和合并处理，得到目标缺陷区域，对目标缺陷区域进行评估处理，得到缺陷区域评估结果，缺陷区域评估结果表征待检测图像中mura缺陷的严重程度。本发明能够通过对缺陷区域完整性的分析提高缺陷检测的精准度。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN118071669A

    (43)申请公布日2024.05.24

    (21)申请号202211467725.2

    (22)申请日2022.11.22

    (71)申请人武汉TCL集团工业研究院有限公司

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