单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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2024-05-25 发布于四川
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本发明公开了一种单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质，包括：确定待测单晶材料的扫描带范围；在所述扫描带范围内，对所述待测单晶材料在不同的极径和极角下进行衍射扫描，得到若干第一衍射谱图；对若干所述第一衍射谱图的衍射强度峰值以及对应的极径和极角进行拟合，得到三维拟合曲线；在所述扫描带范围内，对所述待测单晶材料在所述三维拟合曲线的峰位点对应的极径和极角下进行衍射扫描，得到第二衍射谱图；根据所述第二衍射谱图的衍射强度峰值对应的衍射角，计算待测单晶材料的残余应力。本发明的目的在于解决对单晶材料

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN118067291A

(43)申请公布日2024.05.24

(21)申请号202410215637.6

(22)申请日2024.02.27

(71)申请人西安交通大学

地址710049

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