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一种多通道时间参数测量电路.pdfVIP

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  • 2024-05-25 发布于四川
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一种多通道时间参数测量电路.pdf

    本发明公开了一种多通道时间参数测量电路，属于芯片测试技术领域，具体包括：数据存储单元，用于存储不同通道和不同模式下的配置数据和校准数据；控制单元，用于基于上位机，控制数据处理单元将配置数据和校准数据写到数据存储单元，通过控制指令配置打开待测量芯片的信号通道，并设置待测量的时间参数，以及读取测量结果；数据处理单元，用于将待测的通道信号转换为时间测量单元所能读取的信号，并读取时间测量单元的测量结果，选取数据存储单元的校准数据，将经校准数据补偿后的测量结果发送至控制单元；时间测量单元，用于对通道信号进

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN118068167A

    (43)申请公布日2024.05.24

    (21)申请号202410494031.0

    (22)申请日2024.04.24

    (71)申请人悦芯科技股份有限公司

    地址23

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