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宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法，应用于评价SRAM抗总剂量效应能力，抗辐射加固效果，并进行实验验证文档参考GBT11—2020《标准化工作导则第1部分标准化文件的结构和起草规则》，提供详细步骤，确保实验严谨且准确指南建议使用标准的电离辐射总剂量效应totalionizingdoseeffect试验方法该方法适合所有类型的固体半导体器件和集成电路，并在不同的波长下都能有效测试研究的目标是评估SRAM的抗总剂量效应能力和辐射增强能力注意事项本
ICS27.120.01
CCSF70
团体标
T/CNS
准
82—2022
宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应
试验方法
Testmethodfortotalionizingdoseeffectofstaticrandom-accessmemoryinspaceapplication
2022-12-16发布
2023-04-01实施
中国核学会发布
I
目次
前言 Ⅲ
1范围 1
2规范性引用文件 1
3术语和定义 1
4设
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