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TFT--LCD显示面板制成工艺中的阵列缺陷检测方法研究的开题报告

一、选题背景

随着科技的不断发展，显示技术逐渐成为人们关注的热点领域之一，TFT-LCD显示面板作为目前主流的显示技术，在智能手机、电视和电脑等领域得到广泛应用。然而，在TFT-LCD制造过程中，由于各种原因会引起阵列缺陷，这些缺陷将严重影响显示面板的显示效果和品质，需要进行及时检测和处理。

二、选题意义

目前，针对阵列缺陷检测和处理已经有了一些成熟的方法，如透射率检测、色度分析等，但是这些方法存在着一定的局限性和不足。因此，研究开发一种更加高效、精确的TFT-LCD显示面板阵列缺陷检测方法具有重要的理论和实践意义。

三、研究内容

本研究将主要从以下三个方面进行探究：

1.研究TFT-LCD显示面板制造过程中常见的阵列缺陷机制，分析其成因和特征；

2.结合现有的检测方法，探究阵列缺陷检测方法的改进和优化方案；

3.设计并实现一种基于机器视觉技术的TFT-LCD显示面板阵列缺陷检测方法，并进行实验验证。

四、研究方法

1.文献综述法：通过查阅文献，了解当前TFT-LCD显示面板阵列缺陷检测的相关研究成果和进展；

2.实验研究法：采用机器视觉技术，对TFT-LCD显示面板进行图像采集和分析，验证所设计的缺陷检测方法的效果。

五、预期成果

通过本研究的探究和实验，得出一种更加高效、精确的TFT-LCD显示面板阵列缺陷检测方法，为TFT-LCD显示面板生产过程中的质量监控提供有力的支撑，推动TFT-LCD显示技术的进一步发展。