薄膜厚度的测试方法.pdfVIP

  • 5
  • 0
  • 约1.36万字
  • 约 9页
  • 2024-05-29 发布于四川
  • 举报
本申请涉及一种薄膜厚度的测试方法,包括以下步骤:将单侧表面面积为S的待测薄膜进行能谱扫描,获得待测薄膜中特征元素的质量分数ω,待测薄膜的质量为m;根据待测薄膜中特征元素的质量分数ω、待测薄膜的质量m、特征元素的密度ρ和待测薄膜的单侧表面面积S,得到待测薄膜的厚度h;其中,h=γ·(m·ω)/(ρ·S),γ为1.7~2。该测试方法将含有特征元素的待测薄膜进行能谱扫描,并控制待测薄膜的单侧表面面积为S,获得待测薄膜中特征元素的质量分数ω,通过单侧表面面积S、待测薄膜中特征元素的质量分数ω和待测薄膜的

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN118090797A

(43)申请公布日2024.05.28

(21)申请号202410368308.5

(22)申请日2024.03.28

(71)申请人一汽解放汽车有限公司

地址13

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档