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本申请提供一种新型IV‑VI族半导体晶圆级薄膜及其制备方法,涉及半导体材料领域。制备方法包括:在衬底的表面物理气相沉积前驱体膜层,前驱体膜层包括M膜以及分散于M膜中的X颗粒,M包括Ge或Sn,X包括S或Se。在前驱体膜层的表面利用原子层沉积法形成盖层,获得中间体,其中盖层的生长温度≤200℃,盖层与衬底连接并形成容置前驱体膜层的限域空间;在常压惰性氛围下,使中间体先升温至220‑280℃低温热处理1‑5h,接着升温至IV‑VI族半导体的生长温度并高温热处理至少3h,其能够制得厚度可控且均一的晶圆
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118087031A
(43)申请公布日2024.05.28
(21)申请号202410242108.5C30B33/02(2006.01)
(22)申请日2024.03.
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