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本发明公开了一种基于结构光投影的快速缺陷检测方法，使用投影仪对检测物体表面投影光栅图像，并基于光栅在缺陷处产生畸变的原理，增强物体表面缺陷的显著性，并使相机可以有效获取到二维纹理缺陷与三维结构缺陷。该检测方法通过装置标定、学习参数的准备阶段和图像校正、实时检测的工作阶段，尤其学习参数阶段对模板库进行离散化，在实时检测时引入快速归一化计算和模板匹配，并籍此计算缺陷区域。应用本发明该检测方法，提升了对物体表面三维缺陷的检测能力，克服了外界环境对缺陷检测功能的影响；特别采用一维的离散模板快速匹配发，大
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN115184362A
(43)申请公布日2022.10.14
(21)申请号202210757298.5
(22)申请日2022.06.30
(71)申请人中科苏州智能计算技术研究院
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