半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法.pdfVIP

半导体器件柔性可拉伸半导体器件

第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

1范围

本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法。对测试方法的

说明包括了试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中

描述的测试方法侧重于评价稳定性，而不是可靠性。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

柔性电阻存储器flexibleresistivememory

通过改变介电材料的电阻来实现存储功能的柔性器件。

3.2

弯曲半径bendingradius

按内部曲率测量的管道、管材、板材、电缆或软管等材料可弯曲的最小半径。

3.3

低阻态resistanceoflowresistancestate

LRS

由施加较高电压（单极性转变）或正向偏压（双极性转变）所引发的一种稳定电阻状态。

3.4

高阻态resistanceofhighresistancestate

HRS

由施加较低电压（单极性转变）或反向偏压（双极性转变）所引发的一