硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范-最新国标.pdfVIP

硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范

1范围

本文件规定了硼酸盐非线性光学单晶元件β相偏硼酸钡（β-BaB2O4，简称BBO）和三硼酸锂

（LiB3O5，简称LBO）的术语、产品分类、技术要求、试验方法、检测规则及包装、标志、运输、贮存

等。

本文件适用于硼酸盐非线性光学单晶元件BBO和LBO，其它种类的硼酸盐非线性光学单晶元件也可

参照使用。该元件主要用于制作激光器。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文

件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适

用于本文件。

GB/T11297.1激光棒波前畸变的测量方法

GB/T16601光学表面激光损伤阈值测试方法

GB/T22453硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法

JB/T9495.3光学晶体透过率测量方法

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1硼酸盐非线性光学单晶Non-linearopticalboratecrystal

阴离子基团为硼氧基团的非线性光学单晶。

3.2硼酸盐非线性光学单晶元件Non-linearopticalboratecrystaldevices

硼酸盐非线性光学单晶经过定向、切割、抛光，必要时镀膜后加工成的光学元件。

3.3垂直度Perpendicularity

单晶元件通光面与侧面之间的垂直程度。

3.4切割角度和角度偏差Cuttingangleandangletolerance

切割角度用θ和φ表示，角度偏差用Δθ和Δφ表示。

θ是单晶元件通光面的法线和Z轴之间的夹角。

φ是单晶元件通光面的法线在X－Y平面内的投影与X轴之间的夹角。

单晶元件的角度偏差（△θ，△φ）是实际切割角度与设计切割角度之间的偏差。

X、Y、Z轴为硼酸盐非线性光学单晶的晶体主轴。

3.5平面度Flatness

单晶元件的平面度指单晶元件表面凹凸不平的程度。

3.6表面疵病Scratch/dig

单晶元件表面的划痕、麻点等微观结构缺陷，称为表面疵病。

长与宽的比不小于4:1的表面疵病，称为划痕（Scratch），以S表示；

长与宽的比小于4:1的表面疵病，称为麻点（Dig），以D表示。

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3.7损伤阈值Damagethreshold

可引起光学表面损伤几率为零的最大激光辐照能量密度或功率密度。

3.8波前畸变Wavefrontdistortion

波前畸变是指平行光束的波面通过被检单晶元件后相对于标准参考波面的畸变。

3.9光学均匀性Opticalhomogeneity

光学均匀性是指介质折射率的均匀程度。

3.10吸收率absorptance

吸收辐射通量与输入辐射通量的比值。

4产品分类

本文件规定了硼酸盐非线性光学单晶中的两种单晶元件：低温相偏硼酸钡（β-BaBO，简称BBO）

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和三硼酸锂（LiBO，简称LBO）。

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5技术要求

5.1物理性能

5.1.1散射

在氦氖激光照射下，使用带标尺的显微镜进行观察。要求单晶元件单位体积（cm3）内直径为

10μm～20μm的散射颗粒不得多于4个。

5.1.2光学不均匀性

在波长为632.8nm的激光照射下，单晶元件内单位长度（cm）最大折射率和最小折射率的差值应

不大于5×10-5。

5.1.3特定波长吸收

单晶元件特定波长的吸收应符合表1的规定。

表1单晶元件特定波长吸收的要求（10-6/厘米）

指标（ppm/cm）

种类

1064nm