《半导体集成电路+模拟开关测试方法GBT+14028-2018》详细解读.pptx

《半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018》详细解读;;;;;;涵盖的产品类型;测试方法的应用阶段;;;;;;;定义;;测试参数;;为了规范半导体集成电路模拟开关的测试方法，提高产品质量和可靠性，制定本标准。;4.2适用范围;指用于切换或选择模拟信号的开关器件，具有低导通电阻、高隔离度等特点。;本标准将详细介绍模拟开关的各项测试方法，包括测试前的准备工作、测试过程中的操作步骤、测试后的数据处理等方面。;;;电源与接地;使用高精度的电压表、电流表等测量仪器，以确保测试数据的准确性。;;;了解被测器件;遵循标准中规定的测试步骤和方法，不得随意更改或省略测试环节。;将测试过程中记录的数据进行整理，以便进行后续的数据分析。;;静态电流（IDQ）;;开启时间（tON）;;;;;;;定义;测试准备;;;;测试方法与步骤;导通电阻受模拟开关的内部结构、材料以及制造工艺等多种因素影响。;;;;;;;定义;测试准备;影响因素与解决方案;标准要求与实际应用;;;;;;;;影响因素：导通态漏电流受多种因素影响，包括开关的结构设计、材料选择、工艺制程以及工作条件等。;;开启时间的定义;;影响开启时间的因素;;定义与概述;测试方法;影响因素;;;通道转换时间定义;;;《半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T14028-2018》对通道转换时间的测试方法、条件及允许范围进行了明确规定。;;;测试方法与步骤;;;截止态隔离度的定义;;;;;;馈通频率特性分析;;;;通常采用特定的测试电路和信号源，通过测量输入与输出信号之间的幅度变化来得到导通态串扰衰减的数值。;;应用领域;;指在多路模拟开关中，当某一通道被选通时，其他通道输入信号对该通道产生的干扰程度。;根据标准规定，准备相应的测试设备、信号源及被测模拟开关。;影响因素分析;指标评估;;串扰现象描述;;用于量化控制信号串扰的大小，通常表示为输出变化量与输入控制信号的比值，以分贝(dB)为单位。;;;;;;;;定义与概述;;;行业标准;;;测试准备;影响因素与优化建议;;;电荷注入量是指在模拟开关切换过程中，从开关的输入或输出端注入到电路中的电荷量。;;影响电荷注入量的因素;;THANKS