原创力文档- 1、本文档共14页，其中可免费阅读5页，需付费200金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
查看更多
WS2xSe2（1-x）/Si异质结光电探测器及其性能研究
摘要：二维材料WS2xSe2（1-x）薄膜具有独特的结构和出色的物理特性，在光电探测领域拥有广阔的应用前景，是下一代光电子器件的理想构筑材料。本文主要讨论的问题为：介绍磁控溅射仪和化学气相沉积法（CVD），以SiO2/Si为衬底制作WSSe薄膜。使用电子扫描显微镜等仪器对其表面形态和微观结构进行观察，确定二维WSSe薄膜的品质。然后以此为基础构筑WSSe器件，研究该器件的光电性能，对其在光电探测器上的应用做出一定的指导。关键词：WSSe；二维材料；磁控溅射；化学气相沉积法（CVD）；光电性能
1绪论
1.1石墨烯
文档评论（0）