半导体器件机械和气候试验方法第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)编制说明.docx

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国家标准报批资料

国家标准报批资料

国家标准GB/T4937.31《半导体器件机械和气候试验方法第31局部:塑封器件的易燃性〔内部引起的〕》编制说明

一、工作简况

任务来源

《半导体器件机械和气候试验方法第31局部:塑封器件的易燃性〔内部引起的〕》标准制定是2023年国家标准打算工程,打算工程批准文号:国标委发函

【2023】83号,打算代号T-339。由中华人民共和国工业和信息化部提出,全国半导体器件标准化技术委员会〔SAC/TC78〕归口,主要承办单位为中国电子科技集团公司第十三争论所、河北中电科航检测技术效劳、安徽钜芯半导体科技、北京赛迪君信电子产品检

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