(正式版)-B-T 43024.2-2023 压电、介电和静电振荡器的测量技术 第2部分:相位抖动测量方法.docxVIP

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ICS31.140

CCSL21

中华人民共和国国家标准

GB/T43024.2—2023/IEC62884-2:2017

压电、介电和静电振荡器的测量技术

第2部分:相位抖动测量方法

Measurementtechniquesofpiezoelectric,dielectricandelectrostaticoscillators-

Part2:Phasejittermeasurementmethod

(IEC62884-2:2017,IDT)

2023-09-07发布

2024-01-01实施

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

发布

1

GB/T43024.2—2023/IEC62884-2:2017

目次

前言 Ⅲ

引言 IV

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4测量和测量程序 2

4.1概述 2

4.2相位抖动测量方法 2

4.3测量系统的输入输出阻抗 6

4.4测量设备 6

4.5测量夹具 6

4.6电缆、工具和仪器等 6

5测量与测量环境 7

5.1测量前的设置 7

5.2测量中的注意事项 7

5.3测量后的处理 7

6测量 7

6.1基准温度 7

6.2温度特性的测量 7

6.3振动状态的测量 7

6.4冲击状态的测量 7

6.5加速老化的测量 7

7其他注意事项 8

8其他 8

附录A(资料性)相位抖动计算方法 9

A.1概述 9

A.2说明 9

A.3相位噪声与相位抖动的关系 9

A.4关于相位抖动理论来源的介绍 10

A.5说明 10

A.6测量要点 12

参考文献 15

图1用采样示波器测量相位抖动 2

图2ITU-TO.172推荐的抖动与漂移分析仪框图 4

GB/T43024.2—2023/IEC62884-2:2017

图3等效框图 5

图A.1单边带相位噪声概念图 10

图A.2电压-时间的关系 11

图A.3均方根抖动示意图 13

图A.4随机抖动、确定性抖动和总抖动示意图 13

GB/T43024.2—2023/IEC62884-2:2017

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件是GB/T43024《压电、介电和静电振荡器的测量技术》的第2部分。GB/T43024已经发布

了以下部分:

——第2部分:相位抖动测量方法。

本文件等同采用IEC62884-2:2017《压电、介电和静电振荡器的测量技术第2部分:相位抖动测

量方法》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本文件由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。

本文件起草单位:河北博威集成电路有限公司、北京晨晶电子有限公司、唐山国芯晶源电子有限

公司。

本文件主要起草人:方修成、汤一、张立强。

IV

GB/T43024.2—2023/IEC62884-2:2017

引言

晶体振荡器作为一种高精度的振荡频率源,广泛应用于电子设备、通信系统、测量设备和时钟领域。近来,电子系统的数字化快速发展。在这种形势下,晶体振荡器的频率需要更优的准确度和稳定度,振荡噪声也需要进一步减小。相位抖动是振荡器噪声特性中的一种,在产品交付前需对其进行精确的

测量。

在电子信息和通信工程的最新应用领域(例如先进卫星通信和电动汽车控制电路),通用的相位抖动的测量方法指南更加必要。目前,从电磁干扰(EMI)的角度来看,相位抖动的测量方法也变得愈加重

要了。

GB/T43024《压电、介电和静电振荡器的测量技术》旨在给出压电、介电和静电振荡器的测量和试

验方法,拟由以下部分构成。

——第1部分:基本测量方法。目的在于给出振荡器的基本测量方法,包括试验条件、外观和尺寸

检查、基本电性能试验、机械和环境试验的程序。

——第2部分:相位抖动测量方法。目的

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