（正式版）-B-T 43034.3-2023 集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法.docxVIP

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

GB/T43034.3—2023/IEC62215-3:2013

集成电路脉冲抗扰度测量

第3部分：非同步瞬态注入法

Integratedcircuits—Measurementofimpulseimmunity一

Part3:Non-synchronoustransientinjectionmethod

(IEC62215-3:2013,IDT)

2023-09-07发布

2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

GB/T43034.3—2023/IEC62215-3:2013

目次

前言 Ⅲ

引言 IN

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4概述 3

5耦合网络 3

5.1通则 3

5.2电源注入网络 4

5.3输人引脚注入 5

5.4输出引脚注入 5

5.5多引脚同时注入 6

6IC配置和评估 6

6.1IC配置和运行模式 6

6.2IC监测 7

6.3IC性能分级 7

7试验条件 7

7.1通则 7

7.2电磁环境 7

7.3环境温度 7

7.4IC供电电压 8

8试验设备 8

8.1试验设备的通用要求 8

8.2电缆 8

8.3屏蔽 8

8.4瞬态发生器 8

8.5电源 8

8.6监测和激励设备 8

8.7控制单元 8

9试验布置 8

9.1通则 8

9.2EMC试验板 9

10试验程序 10

I

ll

GB/T43034.3—2023/IEC62215-3:2013

10.1试验计划 10

10.2试验准备 10

10.3耦合脉冲特性 10

10.4脉冲抗扰度测量 11

10.5试验结果的说明与比较 11

10.6瞬态抗扰度接受电平 11

11试验报告 11

附录A(资料性)试验板要求 12

附录B(资料性)选择耦合和去耦网络元件值的提示 16

附录C(资料性)工业环境和消费环境试验 18

附录D(资料性)车辆环境试验 21

Ⅲ

GB/T43034.3—2023/IEC62215-3:2013

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件是GB/T43034《集成电路脉冲抗扰度测量》的第3部分。GB/T43034已经发布了以下

部分：

—第3部分：非同步瞬态注入法。

本文件等同采用IEC62215-3:2013《集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。

本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。

本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、浙江诺益科技有限公司、广州市轰锐电子有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、中国合格评定国家认可中心、扬芯科技(深圳)有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、南京信息工程大学、重庆邮电大学、苏州泰思特电子科技有限公司、中国家用电器研究院、安徽中认倍佳科技有限公司、广州广电计量检测股份有限公司、江苏省电子信息产品

质量监督检验研究院(江苏省信息安全测评中心)、安徽省计量科学研究院。

本文件主要起草人：付君、崔强、吴建飞、李楠、乔彦彬、朱赛、方文啸、叶畅、郑益民、曾敏雄、刘小军、靳冬、刘佳、杨红波、刘星汛、唐元贵、梁吉明、陈燕宁、白云、褚瑞、万发雨、张红升、胡小军、亓新、李旸、

朱崇铭、陈嘉声、王少启、陈梅双。

IV

GB/T43034.3—2023/IEC62215-3:2013

引