WCDMA内环功控(ILPC)因应之道.pdf

在测WCDMA的内环功控时

最常Fail在StepE跟StepF

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因为StepE跟StepF要求的动态范围最大，至少73dB，且要求的精确度高

(StepSize=1dB,Range=0.5dB~1.5dB)，因此最常Fail

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而PA在切换GainMode时会有一段区间的Power是重迭的，

称为磁滞现象

该磁滞现象，是避免PA在PowerMode切换时，因不稳定而产生震荡。同

时也可避免Power变化太过剧烈，以至于Slot跟Slot间的Power差异过大，

造成内环功控Fail。

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而在量内环功控时每秒钟会调整功率1500次，以StepE跟StepF而言，因

为动态范围最大，所以必定每个PowerMode都会用到。如果PowerMode切

换时间太慢，以下图为例:

可能仪器在量测时，本来预期是要从16.5dBm，降到15.5dBm，但PA还却停

留在16.5dBm，这样就是SlotDelta=0，而ILPC要求SlotDelta范围为

0.5dB~1.5dB，故此时就Fail。所以PowerMode切换时间，是越快越好。

因此假设A厂家跟B厂家切换GainMode的时间不同

由上表可知A厂家内环功控的机会较大因为切换时间较长

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此外MIPI信号也是一个影响PA切换GainMode速度的考虑因素

根据电容公式:

若长度越长，截面积越大，则寄生电容越大。而A方案的SDATA/SCLK长度比

较长，造成的寄生电容较大，使得PA在PowerMode切换的反应速度变慢，

若赶不上内环功控每667us调整一次功率的要求，就可能会Fail

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此外若A方案跟B方案，其SDATA/SCLK的线宽不同:

因为B方案的线宽较宽，寄生电容较大，使得PA在PowerMode切换的反应

速度变慢，若赶不上内环功控每667us调整一次功率的要求，就可能会Fail。

除此之外，若要添加RC滤波器时，其电容的值也要特别注意，不要超出MIPI

讯号的电容负载限制。

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另外一般而言，双工器的ANTPort，会有个落地电感，目的是补偿双工器因

封装而造成的电容性负载，使阻抗得以收敛。

所以这颗落地电感要视为双工器的一部分，离双工器越近越好。

若离太远，很可能阻抗怎么调都不收敛:

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而在校正过程当中，会分别量16个参考Channel的Power，然后用线性外插

法的方式，去决定所有Channel的Power。

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若整个频带的Power差异过大，如下图:

这样会导致线性外插法决定的Power值，跟实际上差太多，亦即Power会不准。

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因此虽然内环功控一般只测MidChannel但若整个频带的阻抗不收敛

一样会导致内环功控Fail故以下图为例