纺织原料中异性杂质的多光谱色偏振检测方法及其装置.pdfVIP

纺织原料中异性杂质的多光谱色偏振检测方法及其装置.pdf

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(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN101587079A

(43)申请公布日2009.11.25

(21)申请号CN200910083669.0

(22)申请日2009.05.08

(71)申请人清华大学

地址100084北京市海淀区清华园1号

(72)发明人丁天怀彭波瞿鑫周飞

(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人罗文群

(51)Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

纺织原料中异性杂质的多光谱色偏

振检测方法及其装置

(57)摘要

本发明涉及一种纺织原料中异性杂

质的多光谱色偏振检测方法及其装置,属

于纺织行业自动化检测技术和光学检测技

术领域。本发明方法是用白色偏振光照射

被测纺织原料,当出现异性杂质时通过图

像分析得到该异性杂质的种类、白色偏振

光干涉的显色光谱和纺织原料的厚薄光强

信息,再用调制后的多光谱偏振光照射该

异性杂质,从得到的多光谱色偏振图像中

识别该异性杂质;本发明装置包括透射和

反射紫外增强型多光谱偏振光光源,光学

波片,偏振光检偏器,彩色相机或彩色红

外相机,图像分析器和分光棱镜。本发明

方法及其装置的优点是不仅操作简单,检

测成本低,而且能够将棉花、羊毛等纺织

原料中的显性杂质和现有方法无法检测到

的隐性杂质同时检测出来。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1、一种纺织原料中异性杂质的多光谱色偏振检测方法,其特征在于该方法包括以

下步骤:

(1)用紫外增强型多光谱偏振光光源中的白色偏振光照射含有异性杂质的被测纺织

原料,该白色偏振光经过被测纺织原料中异性杂质改变偏振状态后,从被测纺织原

料中出射;

(2)对上述从被测纺织原料中出射的白色偏振光进行相位补偿和偏振极化,得到纺

织原料中异性杂质的白色偏振光的色偏振;

(3)用视频装置采集上述白色偏振光的色偏振图像,用形态学处理方法对该图像进

行分析得到异性杂质的种类;用红绿蓝颜色空间处理方法对该图像进行分析,得到

异性杂质的白色偏振光色偏振的显色光谱;用图像灰度空间处理方法对该图像进行

分析,得到被测纺织原料的厚薄光强信息;根据上述得到的异性杂质的种类、异性

杂质的白色偏振光色偏振的显色光谱和被测纺织原料的厚薄光强信息,产生对光谱

光强控制信号;根据上述被测纺织原料中异性杂质的种类,当异性杂质不具有荧光

效应时,用上述的光谱光强控制信号调节紫外增强型多光谱偏振光光源的光谱和光

强,得到多光谱偏振光;当异性杂质具有荧光效应时,用上述的光谱光强控制信号

调节紫外增强型多光谱偏振光光源的光谱和光强,得到紫外增强型多光谱偏振光;

(4)使上述得到的多光谱偏振光或紫外增强型多光谱偏振光照射到含有异性杂质的

被测纺织原料上,经纺织原料出射的偏振光为偏振状态发生变化的多光谱偏振光或

荧光增强型多光谱偏振光;

(5)对步骤(4)中出射的多光谱偏振光或荧光增强型多光谱偏振光进行相位补偿和偏

振极化,得到被测纺织原料中异性杂质的多光谱色偏振或荧光增强型多光谱色偏振;

(6)利用所述的视频装置采集上述多光谱色偏振图像或荧光增强型多光谱色偏振图

像,从该图像中识别异性杂质。

2、一种纺织原料中异性杂质的多光谱色偏振检测装置,其特征在于该装置包括:

一个透射紫外增强型多光谱偏振光光源,置于被测纺织原料的一侧,用于产生白色

偏振光、多光谱偏振光或紫外增强型多光谱偏振光中的一种,并垂直照射含有异性

杂质的被测纺织原料,经纺织原料中异性杂质改变偏振状态后,从纺织原料中透射;

一个反射紫外增强型多光谱偏振光光源,置于被测纺织原料的另一侧,用于产生白

色偏振光、多光谱偏振光或紫外增强型多光谱偏振光中的一种,并垂直照射含有异

性杂质的被测纺织原料,经纺织原料中异性杂质改变偏振状态后,从纺织原料中反

射;

一个分光棱镜,用于使上述反射紫外增强型多光谱

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