【英/法语版】国际标准 IEC 60147-1K:1981 EN-FR Supplement K - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 1: Essential ratings and characteristics - Chapter 9: Optoelectronic devices 半导体器件的基本性能.pdf

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IEC60147-1K:1981EN-FR补充K-半导体器件的基本评级和特性及测量方法的一般原则-第1部分:基本评级和特性-第9章:光电设备

IEC60147-1K标准是关于半导体器件的基本评级和特性的规定，以及测量方法的一般原则。该标准分为多个部分，其中第1部分是关于基本评级和特性的主要部分。

第9章专门针对光电设备，对这类设备的特性进行了详细描述。

具体来说，该标准对光电设备的种类、性能参数、尺寸、工作环境等进行了规定，同时还规定了测试方法和测试标准。这些规定有助于确保光电设备的质量和性能，同时也有助于促进该领域的技术发展。

该标准还规定了光电设备的标识和标签要求，以确保用户能够正确识别和使用这些设备。IEC60147-1K标准是光电设备领域的重要参考标准，对于促进该领域的技术进步和标准化具有重要意义。

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