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ic半导体测试基础(中文版).docx

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    本章节我们来说说最根本的测试——开短路测试〔Open-ShortTest〕，说说测试的目的和方法。

    一．测试目的

    Open-ShortTest也称为ContinuityTest或ContactTest，用以确认在器件测试时全部的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。

    测试时间的长短直接影响测试本钱的凹凸，而削减平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地觉察并剔除坏的芯片。Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bondwire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。

    另外，在测

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