【英/法语版】国际标准 IEC 61967-6:2002/AMD1:2008 EN-FR Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method 修正案1 - 集成电路 - 电磁辐射的测量,150 kHz至1 GHz - 第6部分:.pdf

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  •   |  2008-03-12 颁布

【英/法语版】国际标准 IEC 61967-6:2002/AMD1:2008 EN-FR Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method 修正案1 - 集成电路 - 电磁辐射的测量,150 kHz至1 GHz - 第6部分:.pdf

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IEC61967-6:2002/AMD1:2008EN-FRAmendment1-集成电路-电磁辐射的测量,150kHz至1GHz-第6部分:传导辐射的测量-磁性探针方法(IEC61967-6)是一套关于集成电路电磁辐射测量的国际标准。它涉及到频率在150kHz到1GHz范围内的电磁辐射测量。特别地,它描述了一种使用磁性探针进行传导辐射测量的方法。这种方法主要关注电路在运行过程中产生的磁场变化,从而评估电路的电磁辐射特性。这个标准对于理解电子设备在特定频率范围内的电磁辐射特性和限制,以及在某些应用中如航空,医疗等对电磁辐射的限制有重要的指导意义。

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