【英/法语版】国际标准 IEC 61169-1-5:2022 EN-FR 射频连接器-第1-5部分：电气测试方法-上升时间劣化 Radio frequency connectors - Part 1-5: Electrical test methods - Rise time degradation.pdf

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IEC61169-1-5:2022EN-FRRadiofrequencyconnectors-Part1-5:Electricaltestmethods-Risetimedegradation是一系列针对无线电频率连接器的测试方法和规定，它特别关注上升时间劣化。该标准定义了一系列的测试步骤和方法，以评估连接器的电气性能，特别是在射频信号环境中的表现。IEC61169标准系列是一套国际标准，旨在为电子设备和部件的电气性能测试提供通用指导。该系列涵盖了各种类型的电子设备和部件，包括但不限于连接器、电缆、插座、开关等。Part1-5专门关注无线电频率连接器，特别是那些在高频环境下使用的连接器。上升时间是指信号从零值增加到峰值所需要的时间。在电子设备中，特别是射频设备中，信号的上升时间对于信号的质量和设备的性能至关重要。劣化的上升时间可能会导致信号失真、噪声增加或系统性能下降。IEC61169-1-5标准提供了一套详细的测试方法，用于测量连接器的上升时间，并评估其在各种工作条件下的性能。这些测试包括但不限于连接器的插入损耗、阻抗匹配、辐射损耗等。通过执行这些测试，可以确定连接器的电气性能是否符合预期，并确定其是否适合特定的应用环境。IEC61169-1-5:2022EN-FRRadiofrequencyconnectors-Part1-5:Electricaltestmethods-Risetimedegradation是一套非常有用的标准，它为评估无线电频率连接器的电气性能提供了详细的测试方法和规定。