【英/法语版】国际标准 IEC 61967-8:2011 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method 集成电路电磁辐射测量-第8部分：辐射发射测量-IC带状线方法.pdf

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IEC61967-8:2011EN-FR的“IEC61967-8:2011EN-FR集成电路-电磁辐射测量-第8部分:辐射发射测量-IC板状法”是一个国际电工委员会（IEC）的标准，用于测量集成电路的电磁辐射。这个标准主要关注集成电路在电磁辐射环境中的表现，特别是当它们在电路系统中工作时产生的电磁辐射。IEC是一个国际性的标准制定组织，由多个国家和组织共同参与，致力于制定电子工程领域的国际标准。

在这个标准中，IC板状法是用于测量辐射发射的一种方法。这种方法主要用于测量集成电路的辐射电磁能量，特别是那些可能会对其他电子设备产生干扰的电磁能量。具体来说，IC板状法的操作方式是在一个特殊的测试环境中进行的，这个环境能够产生与实际使用环境中可能出现的辐射源相似的辐射环境。在这个环境中，被测集成电路被放置在一个板状结构中，这个结构能够提供稳定的辐射环境，并且能够收集并测量集成电路产生的电磁辐射。

这种方法的主要优点是可以提供一个稳定且可重复的测试环境，这对于评估集成电路在各种实际使用条件下的性能非常重要。这种方法还可以提供关于集成电路辐射特性的详细信息，包括其辐射功率、频率和波形等。这些信息对于评估集成电路的电磁干扰特性，以及在设计和制造过程中如何优化这些特性都有着重要的意义。

IEC61967-8:2011EN-FR的IC板状法是一个重要的标准，用于测量集成电路的电磁辐射，特别是那些可能对其他电子设备产生干扰的辐射。这种方法提供的信息对于评估集成电路的性能，以及在设计和制造过程中优化这些性能都有着重要的意义。