【英/法语版】国际标准 IEC 61788-15:2011 EN-FR Superconductivity - Part 15: Electronic characteristic measurements - Intrinsic surface impedance of superconductor films at microwave frequencies 超导性 - 第15部分:微波频率下超导薄膜的内在表面阻抗的电子特性测量.pdf
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- | 2011-10-24 颁布
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IEC61788-15:2011EN-FRSuperconductivity-Part15:Electroniccharacteristicmeasurements-Intrinsicsurfaceimpedanceofsuperconductorfilmsatmicrowavefrequencies是国际电工委员会(IEC)发布的一个标准,专门用于超导性的电子特性测量。该标准分为多个部分,其中第15部分专门涉及到超导性薄膜在微波频率下的内在表面阻抗(IntrinsicSurfaceImpedance)的测量。
在超导性薄膜中,内在表面阻抗是一个重要的参数,它描述了薄膜表面对于微波的阻抗能力。这个参数对于理解超导薄膜的性能和开发新型超导材料具有重要意义。
在执行微波频率下的超导薄膜内在表面阻抗测量时,需要遵循一系列特定的步骤和条件,包括选择适当的测试设备和方法,设置适当的测试环境,以及进行数据处理和分析等。
IEC61788-15:2011EN-FR标准是用于测量超导性薄膜在微波频率下的内在表面阻抗的重要工具,对于理解超导薄膜的性能和开发新型超导材料具有重要价值。
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