【英语版】国际标准 ISO/TR 21477:2017 EN Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Surface imperfection specification and measurement systems 光学和光子学 绘制光学元件和系统图纸 表面缺陷规范和测量系统.pdf

ISO/TR21477:2017《光学与光子学-光学元件和系统的绘图准备-表面缺陷规范与测量系统》是一个国际标准组织ISO发布的技术报告，主要涉及到光学元件和系统的绘图准备。它详细说明了如何精确地描述和测量光学元件表面的不完美之处，包括各种类型的表面缺陷，如划痕、凹痕、凸起等。此标准为设计人员提供了一种系统的方法，以准确地表示和理解光学元件表面的状态，这对于确保系统的性能和可靠性至关重要。

具体来说，该标准强调了以下内容：

1.表面缺陷的分类和定义：该标准详细说明了不同类型的表面缺陷，包括但不限于划痕、凹痕、凸起、腐蚀、粗糙度等，并为每种类型定义了相应的术语和测量方法。

2.绘图表示法：该标准规定了如何将表面缺陷信息准确地表示在图纸上，包括使用符号、图例和注释来描述缺陷的位置、大小、严重程度等。

3.测量系统：该标准推荐了用于测量表面缺陷的测量系统和方法，包括各种光学和电子仪器，如轮廓仪、影像测量仪、激光扫描仪等。这些仪器可以精确地测量表面尺寸、形状和位置，从而为设计人员提供有关元件表面状态的关键信息。

4.测量系统的准确性和可靠性：该标准强调了测量系统的准确性和可靠性对于获得可靠结果的重要性，并提供了一些指导原则，以确保测量系统能够满足精度要求。

ISO/TR21477:2017《光学与光子学-光学元件和系统的绘图准备-表面缺陷规范与测量系统》为光学元件设计人员提供了一个详细的方法和指导原则，以确保所使用的元件具有高质量和可靠性，从而确保整个系统的性能和可靠性。