【英/法语版】国际标准 IEC 62132-2:2010 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分：辐射抗扰度测量 - TEM细胞和宽频TEM细胞方法.pdf

IEC62132-2:2010EN-FR集成电路-电磁抗扰度测量-第2部分:辐射抗扰度测量-TEM单元和宽频带TEM单元方法。

IEC62132系列标准是一系列针对电子设备和系统电磁抗扰度的测量和评估标准，其IEC62132-2标准是其中一部分，主要关注设备的辐射抗扰度测量。此部分的标准适用于测量和评估电子设备在受到外部电磁辐射时的性能表现，如设备的性能是否会受到干扰、是否能正常工作等。

IEC62132-2:2010版本中，辐射抗扰度测量的方法被详细地分为TEM细胞法和宽频带TEM细胞法。

TEM细胞法是一种用于测量设备在特定电磁环境下抵抗辐射干扰能力的实验方法。这种方法主要针对的是设备在受到特定频率范围内的电磁辐射时的性能表现。实验中，设备将被置于一个特定的电磁环境中，然后通过观察设备的性能变化来评估其抗扰性能。

宽频带TEM细胞法是一种更为精确的测量方法，它能够测量设备在更广泛频率范围内的电磁辐射下的抗扰性能。这种方法通过使用一个宽频带的电磁环境，使得设备在各种频率下的性能表现都能被有效地评估。

IEC62132-2:2010EN-FR标准提供了详细的辐射抗扰度测量的方法，包括TEM细胞法和宽频带TEM细胞法，这些方法能够帮助制造商和用户评估电子设备的电磁抗扰性能，以确保设备能在各种电磁环境下正常工作。