【英/法语版】国际标准 IEC 62878-1-1:2015 EN-FR Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods 嵌入式设备基板 - 第1-1部分：通用规范 - 测试方法.pdf

IEC62878-1-1:2015EN-FR标准的内容解释如下：

**设备嵌入式基板-第1部分：一般规范-测试方法**

IEC62878系列标准是一系列针对电子设备和嵌入式基板的规范，特别是在无线通信设备和其他通信设备中的应用。IEC62878-1-1是这一系列标准的一部分，专门关注设备嵌入式基板的测试方法。

测试方法主要包括以下步骤：

**1.设备准备**

在开始测试之前，需要确保设备在适当的温度和湿度条件下进行测试。同时，为了保持测试的一致性，需要确保设备的初始状态是相同的。

**2.环境因素影响测试**

测试包括模拟实际使用环境中可能出现的各种环境因素，如温度变化、湿度、振动等，以评估设备在这些条件下的性能。

**3.电气性能测试**

测试包括检查设备的电气性能，如电压、电流、电阻等是否符合标准。还需要检查设备的电气连接是否稳定，是否存在短路、开路等问题。

**4.机械性能测试**

测试包括检查设备的机械性能，如连接部分的紧固性、设备的尺寸和形状等。还需要检查设备在受到外部冲击时的表现，以确保其能够承受预期的机械压力。

**5.电路板性能测试**

测试包括检查电路板的电气性能和功能，如检查电路板的各个组件是否正常工作，电路板之间的连接是否稳定等。

IEC62878-1-1标准提供了一套详细的测试方法，用于评估电子设备和嵌入式基板的性能和稳定性。这些测试方法对于确保设备的可靠性和稳定性至关重要，尤其是在通信设备和其他需要高度可靠性的设备中。