【英/法语版】国际标准 IEC 63185:2020 EN-FR Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method 平衡型圆盘谐振器方法测量低损耗介质基板复介电常量的测量方法.pdf

IEC63185:2020EN-FRMeasurementofthecomplexpermittivityforlow-lossdielectricsubstratesbalanced-typecirculardiskresonatormethod是关于低损耗电介质基板的复介电常数测量的一种标准。具体来说，它提供了一种基于平衡式圆盘谐振器的方法来测量其复介电常数。该标准是由国际电工委员会（IEC）制定的，适用于各种低损耗电介质基板材料的测量。

平衡-型圆盘谐振器方法是一种精密的测量技术，它使用一个精确的谐振器装置来测量样品在微波频率范围内的电学特性。这种方法通过测量谐振器的谐振频率和品质因数，以及样品对微波的吸收和反射，来获取样品的复介电常数。这种方法适用于各种材料，包括电介质基板、复合材料和薄膜等，因为它能够适应不同材料的特性和电学特性。

低损耗电介质基板是指材料在微波频率下具有较低的吸收和反射损失的电介质材料。这些材料在电子、通信、雷达和其他高科技领域中具有广泛的应用，因为它们能够提高电子设备的性能和效率。因此，准确地测量这些材料的复介电常数对于优化电子设备的设计和性能非常重要。

IEC63185:2020EN-FRMeasurementofthecomplexpermittivityforlow-lossdielectricsubstratesbalanced-typecirculardiskresonatormethod是一种精确的测量方法，可用于低损耗电介质基板的复介电常数的测量，对于优化电子设备的设计和性能具有重要意义。