原创力文档【英/法语版】国际标准 IEC 63093-13:2019 EN-FR 铁氧体磁芯-尺寸指南及表面不规则性的限制-第13部分：PQ-磁芯 Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 13: PQ-cores.pdf
- 5
- 0
- 2024-07-14 发布于四川
-
正版发售
- 现行
- 正在执行有效期
- | 2019-02-05 颁布
- 1、本网站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
- 2、本网站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
- 3、标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题
查看更多
IEC63093-13:2019EN-FR铁氧体磁心-尺寸和表面不规则性的指南-第13部分：PQ-磁心是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，专门针对铁氧体磁心的尺寸和表面不规则性的规定。该标准规定了PQ-磁心的设计、制造和测试要求，以确保它们在电气和机械性能方面符合一定的标准。
该标准的主要内容包括：
尺寸规定：该标准详细规定了PQ-磁心的各种尺寸，包括长度、宽度、厚度、孔径、孔深等。这些尺寸必须符合标准规定，以确保磁心的性能和稳定性。
表面不规则性的限制：该标准规定了表面不规则性的最大允许值，包括表面粗糙度、凹凸不平、划痕等。这些不规则性会影响磁心的外观和手感，但必须在一定范围内，以确保磁心的可靠性和耐久性。
PQ-磁心类型：PQ-磁心是一种常用的磁性元件，通常用于射频和微波电路中。它们具有低损耗和高稳定性等优点，因此在电子设备中得到广泛应用。
IEC63093-13:2019EN-FR标准为铁氧体磁心的设计、制造和测试提供了详细的指南和要求，以确保它们在电气和机械性能方面达到一定的标准。这些标准对于电子设备的生产和质量控制至关重要。
您可能关注的文档
- 国际标准 IEC 63068-1:2019 EN 半导体器件——功率器件碳化硅单晶外延片非破坏性缺陷识别准则——第1部分：缺陷的分类 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects.pdf
- 国际标准 IEC 63068-1:2019 EN Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects 半导体器件——功率器件碳化硅单晶外延片非破坏性缺陷识别准则——第1部分：缺陷的分类.pdf
- 国际标准 IEC 63068-2:2019 EN 半导体器件-功率器件用碳化硅单晶外延片非破坏性缺陷识别标准（Part 2）: 利用光学检测法缺陷测试方法 Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects usin.pdf
- 国际标准 IEC 63068-2:2019 EN Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection 半导体器件-功率器件用碳化硅单晶外延片非破坏性缺陷识别标准（Pa.pdf
- 国际标准 IEC 63068-3:2020 EN-FR 半导体器件——功率器件用碳化硅单晶外延片非破坏性缺陷识别准则——第3部分：使用荧光光度计的缺陷检测方法 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects us.pdf
- 国际标准 IEC 63068-3:2020 EN-FR Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence 半导体器件——功率器件用碳化硅单晶外延片非破坏性缺陷识别准则.pdf
- 国际标准 IEC 63068-4:2022 EN 半导体器件-功率器件碳化硅单晶片非破坏性缺陷识别准则-第4部分：使用光学检测和荧光光度相结合的方法来识别和评估缺陷的程序 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identi.pdf
- 国际标准 IEC 63068-4:2022 EN Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optic.pdf
- 国际标准 IEC 63073-1:2020 EN-FR 专用放射性核素成像装置－特性与试验条件－第1部分：心脏SPECT Dedicated radionuclide imaging devices - Characteristics and test conditions - Part 1: Cardiac SPECT.pdf
- 国际标准 IEC 63073-1:2020 EN-FR Dedicated radionuclide imaging devices - Characteristics and test conditions - Part 1: Cardiac SPECT 专用放射性核素成像装置－特性与试验条件－第1部分：心脏SPECT.pdf
- 国际标准 IEC 63093-13:2019 EN-FR Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 13: PQ-cores 铁氧体磁芯-尺寸指南及表面不规则性的限制-第13部分：PQ-磁芯.pdf
- 国际标准 IEC 63093-14:2019 EN-FR 铁氧体磁芯-尺寸指南和表面不规则性的限制-第14部分：EFD-磁芯 Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 14: EFD-cores.pdf
- 国际标准 IEC 63093-14:2019 EN-FR Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 14: EFD-cores 铁氧体磁芯-尺寸指南和表面不规则性的限制-第14部分：EFD-磁芯.pdf
- 国际标准 IEC 63093-2:2020 EN-FR 铁氧体磁芯——尺寸准则和表面不规则性的极限——第2部分：用于电信、电源和滤波应用的插瓶磁芯 Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 2: Pot-cores for use in telecommunications, power supply, and filter applications.pdf
- 国际标准 IEC 63093-2:2020 EN-FR Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 2: Pot-cores for use in telecommunications, power supply, and filter applications 铁氧体磁芯——尺寸准则和表面不规则性的极限——第2部分：用于电信、电源和滤波应用的插瓶磁芯.pdf
- 国际标准 IEC 63093-3:2020 EN-FR 铁氧体磁芯-尺寸指南和表面不规则度的限制-第3部分：用于电感近感开关的铁氧体半磁环 Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 3: Half pot-cores made of ferrite for inductive proximity switches.pdf
- 国际标准 IEC 63093-3:2020 EN-FR Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 3: Half pot-cores made of ferrite for inductive proximity switches 铁氧体磁芯-尺寸指南和表面不规则度的限制-第3部分：用于电感近感开关的铁氧体半磁环.pdf
- 国际标准 IEC 63093-4:2019 EN-FR 铁氧体磁芯-尺寸的指导原则和表面不规则性的限制-第4部分：RM-磁芯 Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 4: RM-cores.pdf
- 国际标准 IEC 63093-4:2019 EN-FR Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 4: RM-cores 铁氧体磁芯-尺寸的指导原则和表面不规则性的限制-第4部分：RM-磁芯.pdf
- 国际标准 IEC 63093-5:2018 EN 铁氧体磁芯 -尺寸准则与表面不规则度的限制 -第5部分：用于电感器和变压器的EP-磁芯及相关部件 Ferrite cores - Guidelines on dimensions and the limits of surface irregularities - Part 5: EP-cores and associated parts for use in inductors and transformers.pdf
文档评论（0）