【英/法语版】国际标准 IEC 62951-6:2019 EN-FR 半导体器件——柔性及可拉伸半导体器件——第6部分：柔性导电膜片阻抗测试方法 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films.pdf

IEC62951-6:2019EN-FR半导体器件-柔性及拉伸型半导体器件-第6部分：柔性导电膜片电阻率测试方法

IEC62951系列标准是关于半导体器件的国际标准，其中IEC62951-6:2019是关于柔性及拉伸型半导体器件的标准。该标准规定了柔性导电膜片电阻率测试的方法。

柔性导电膜片是一种在柔性基底上形成的导电薄膜，通常用于半导体器件的制造中。其电阻率是衡量薄膜导电性能的重要参数之一，电阻率越高，薄膜的导电性能越差。

测试柔性导电膜片电阻率的方法是使用特定的测量仪器，如四探针测试仪，通过测量薄膜在特定条件下的电阻值，进而计算出电阻率。该方法需要选择合适的测量条件，如温度、湿度、电压等，以确保测试结果的准确性。

在进行测试时，需要将柔性导电膜片放置在特定的测试夹具中，以确保薄膜与测试探针保持良好接触。同时，需要确保测试环境符合规定要求，以确保测试结果的可靠性。

IEC62951-6:2019EN-FR标准规定了柔性导电膜片电阻率测试的方法和要求，为半导体器件制造商提供了测试指导，以确保产品的质量和性能。