【英语版】国际标准 IEC TS 62607-6-1:2020 EN 纳米制造-关键控制特性-第6部分:石墨烯材料-体积电阻率:四探针法 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-1: Graphene-based material - Volume resistivity: four probe method.pdf
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- 2024-07-16 发布于四川
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- | 2020-07-08 颁布
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IECTS62607-6-1:2020ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-1:Graphene-basedmaterial-Volumeresistivity:fourprobemethod是国际电工委员会(IEC)发布的一份关于纳米制造的关键控制特性的标准,具体到基于石墨烯的材料——体积电阻率的四探针法测量部分。
体积电阻率是衡量材料电阻性能的一个重要指标,反映了材料内部的电子散射程度。对于石墨烯这样的二维材料,其厚度极小,因此电阻性能受到材料制备工艺、环境条件、存储条件等因素的影响。为了确保石墨烯材料的性能稳定性和一致性,需要对其进行严格的控制和测量。
四探针法是一种常用的测量体积电阻率的方法,通过测量四个探针之间的电阻值来推算材料的体积电阻率。这种方法具有较高的精度和稳定性,适用于大规模生产和质量控制。在石墨烯材料的测量中,四探针法被广泛应用于研究和生产领域。
需要注意的是,在实际应用中,需要根据具体情况选择合适的测量方法和设备,并进行相应的校准和误差分析。对于纳米材料的其他性能指标,如表面电阻率、电导率等也需要进行相应的测量和控制,以确保材料性能的稳定性和一致性。
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