DRIE深反应离子刻蚀技术-课件.pptVIP

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SiSiO2的干法刻蚀;干法刻蚀的各向异性;干法刻蚀的各向异性;不挥发残留物的淀积;尽管CF4只腐蚀Si,当更多的Si表面暴露时,更多的F被消耗掉,导致F/C减小,腐蚀减慢

加入H2消耗F–易导致polymerization

加入O2消耗C–导致腐蚀;时间复用深腐蚀;DRIE扇形过刻;高选择比;DRIE掩膜材料

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