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稳态法测量固体导热系数
(TC-3B型固体导热系数测)定仪
(集成温度传感器测温)
实验讲义
杭州精科仪器有限公司
固体导热系数的测量
导热系数是表征物质热传导性质的物理量。材料结构的变化与所含杂质等因素都会对导热系数产生明显的影响,因此,材料的导热系数常常需要通过实验来具体测定。测量导热系数的方法比较多,但可以归并为两类基本方法:一类是稳态法,另一类为动态法。用稳态法时,先用热源对测试样品进行加热,并在样品内部形成稳定的温度分布,然后进行测量。而在动态法中,待测样品中的温度分布是随时间变化的,例如按周期性变化等。本实验采用稳态法进行测量。
【实验目的】
用稳态法测定出不良导体的导热系数,并与理论值进行比较。
用稳态法测定铝合金棒的导热系数,分析用稳态法测定良导体导热系数存在的缺点。
【实验原理】
根据傅立叶导热方程式,在物体内部,取两个垂直与热传导方向、彼此间相距为h、
温度分别为T,T
1 2
的平行平面(设T
1
?T),若平面面积均为S,在?t时间内通过面积
2
S的热量?Q满足下述表达式:
?Q (T?T)
?t ???S? 1h 2
(1)
式中?Q为热流量,?即为该物质的热导率(又称作导热系数),?在数值上等于相距单
?t
位长度的两平面的温度相差1个单位时,单位时间内通过单位面积的热量,其单位是
W?m?1?K?1。本实验仪器如
图1所示:
在支架上先放上圆铜盘P,在P的上面放上待测样品B(圆盘形的不良导体),再把带发热器的圆铝盘A放在B上,发热器通
1
电后,热量从A盘传到B盘,再传到P盘,由于A, P盘都是良导体,其温度即可以代表
B盘上、下表面的温度T 、T
1 2
,T 、T
1 2
分别由插入A, P盘边缘小孔铂电阻温度传
感器E来测量。通过变换温度传感器插入位置,即可改变铂电阻温度传感器的测量目标。由式(1)可以知道,单位时间内通过待测样品B任一圆截面的热流量为:
?Q (T?T)
hB?t ??? 1 2
h
B
???R2
B
(2)
式中R
B
为样品的半径,h
B
为样品的厚度,当热传导达到稳定状态时,T和T
1 2
的值不变,
于是通过B盘上表面的热流量与由铜盘P向周围环境散热的速率相等,因此,可通过铜盘
P在稳定温度T 时的散热速率来求出热流量?Q 。实验中,在读得稳态时的T和T后,
2 ?t 1 2
即可将B盘移去,而使发热铝盘A的底面与散热铜盘P直接接触。当盘P的温度上升到高于稳态时的T值若干摄氏度后,再将发热铝盘A移开,让散热铜盘P自然冷却。观察
2
它的温度T随时间t变化情况,然后由此求出铜盘在T
2
的冷却速率
,而
?T?tT
?T
?t
?T?tm?C
?T
?t
?Q
(m为紫铜盘P的质量,C为铜材的比热容),就是紫铜盘P在温
度为T
2
T?T2 ?t
?T
时的散热速率。但要注意,这样求出的?t
是紫铜盘P的全部表面暴露于空气中的
冷却速率,其散热表面积为2??R2
2??R ?h (其中R与h 分别为紫铜盘的半径
P P P P
与厚度)。然而,在观察测试样品的稳态传热时,P盘的上表面(面积为?R2)是被样品
P
?覆盖着的,根据物体的冷却速率与它的表面积成正比的原理,这部分面积计算时应予以扣除。那么稳态时铜盘P的散热速率的实际表达式应按如下修正:
?
?Q ?T π?R2?2π?R ?h ?
?m?C? ?? P P P?
(3)
?t ?t 2π?R2?2π?R ?h
P P P
将式(3)代入式(2),得:
??m?C??T??
?R ?2h
P ?P
??h
? B
?? 1 (4)
?t 2R
P
2h
P
T?T
1 2
??R2
B
【实验仪器】
2
本实验采用杭州精科仪器有限公司生产的TC?3B型导热系数测定仪。该仪器采用低于36V的隔离电压作为加热电源,安全可靠。整个加热圆筒可上下升降和左右转动,发热圆盘和散热圆盘的侧面有一小孔,作为插入铂电阻温度传感器之用。散热盘P放在可以调
节的三个螺栓(接触点隔热)上,可使待测样品盘的上下两个表面与发热圆盘和散热圆盘紧密接触。散热盘P下方有一个轴流式风扇,在需要快速降温时用来强制散热。一个插在发热圆盘(上盘)的小孔内集成温度传感器,作为系统控温和上盘温度检测用(出厂时已安装)。另一个集成温度传感器根据实验步骤需要,分别插入散热铜圆
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