【英语版】国际标准 ISO 11039:2012 EN 表面化学分析 扫描探针显微镜 漂移率测量 Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Measurement of drift rate.pdf

ISO11039:2012EN是关于表面化学分析的扫描探针显微镜（SPM）中漂移率测量的国际标准。

扫描探针显微镜是一种精密的仪器，用于对非常小的表面进行高分辨率的观察和测量。它通常用于研究物质表面的微观结构和性质，以及在纳米尺度上进行各种实验。

漂移率是扫描探针显微镜中的一个重要参数，它描述了探针在表面上的移动速度。这个速度的变化可能会受到许多因素的影响，例如表面特性、环境条件、探针的状态等。准确测量漂移率对于理解表面行为和进行相关实验非常重要。

ISO11039:2012EN标准详细规定了进行漂移率测量时的要求和方法，包括所需的设备、样品准备、测量步骤、数据分析和结果表述等。这个标准提供了一种规范和指导，以确保在不同实验条件下得到的漂移率结果具有可比性和准确性。

ISO11039:2012EN标准是关于扫描探针显微镜中漂移率测量的重要指南，它为实验研究人员提供了测量和比较漂移率的方法和要求。