【英语版】国际标准 ISO 13424:2013 EN Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis 表面化学分析 X 射线光电子能谱 报告薄膜分析结果.pdf

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【英语版】国际标准 ISO 13424:2013 EN Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis 表面化学分析 X 射线光电子能谱 报告薄膜分析结果.pdf

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ISO13424:2013EN表面化学分析—X射线光电子光谱—薄膜分析结果报告标准是关于X射线光电子光谱分析结果的报告规定。X射线光电子光谱是一种表面分析技术,用于研究薄膜的化学组成和化学态。该标准提供了关于如何准确地报告薄膜分析结果的信息,包括选择使用的术语、测量数据的准确度、测量值的上下限、以及如何解释结果等方面的指导。该标准旨在为使用X射线光电子光谱进行表面分析的人员提供一个统一的报告框架,以促进不同实验室之间的可比性。

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