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注意(1)薄膜的厚度是均匀的,为常数en2=1.38n3=1.50n1=1(2)?如图,薄膜表面发生的两次反射如果一次是光疏-光密媒质界面(n1n2)另一次也是光疏-光密媒质界面(n2n3),则可以不不考虑半波损失?(3)?如图,薄膜表面发生的两次反射如果一次是光疏-光密媒质界面(n1n2)另一次也是光密-光疏媒质界面(n2n3),则必须考虑半波损失?(3)如果光垂直入射i=0,有增透膜和增反膜增透膜(antireflectionfilm)在透镜表面镀一层厚度均匀的透明介质膜,使其上、下表面对某种色光的反射光产生相消干涉,其结果是减少了该光的反射,增加了它的透射。照相机镜头眼镜激光器谐振腔宇航服增反膜利用薄膜干涉原理,使薄膜上、下表面对某种色光的反射光发生相长干涉,其结果是增加了该光的反射,减少了它的透射。解:例题13-4照相机透镜常镀上一层透明薄膜,目的就是利用干涉原理减少表面的反射,使更多的光进入透镜,常用的镀膜物质是MgF2,折射率n=1.38,为使可见光谱中?=550nm的光有最小反射,问膜厚e=?n2=1.38n3=1.50n1=1反射最小k=0,1,2,…对应于最小厚度,k=0得到,说明:入射光能量一定,反射光能量减弱必然使透射能量增强,所以这种膜称为增透膜。例题13-5空气中肥皂膜(n1=1.33),厚为0.32?m。如用白光垂直入射,问肥皂膜呈现什么色彩?解:?2=567nm(黄光)可见光范围400~760nm补充题1在空气中垂直入射的白光从肥皂膜上反射,在可见光谱中630nm处有一干涉极大,而在525nm处有一干涉极小,在这极大与极小之间没有另外的极小。假定膜的厚度是均匀的,求这膜的厚度。肥皂水的折射率看作与水相同,为1.33。返回结束解:解:2nekl12l1+==5.921×10-4(mm)=kl22ne3×5252×1.33=k=3将代入(2k+1)2ne2l2+=2l2由上两式得到:返回结束补充题2白光垂直照射在空气中厚度为0.40mm的玻璃片上,玻璃的折射率为1.50,试问在可见光范围内(l=400~700nm),哪些波长的光在反射中增强?哪些波长的光在透射中增强?返回结束解:解:若反射光干涉加强k=1,2,3...2lkl+ne2=2k-1l=ne4=2400(nm)k=1=4×1.5×0.4×1032×1-1l1=800(nm)l2k=2=343(nm)l4k=4紫外光=480(nm)l3k=3可见光红外光返回结束+k12()2l+ne2=l取k=2l2kne2===600(nm)2×1.5×0.4×1032取k=3kne2===400(nm)2×1.5×0.4×1033l3若透射光干涉增强则反射光干涉相消由干涉相消条件k的其它取值属于红外光或紫外光范围返回结束薄膜干涉条件(以空气劈尖为例)加强:相消:等厚干涉:条纹级次取决于薄膜厚度的干涉特点:同一条纹反映膜的同一厚度二、薄膜的等厚干涉考虑垂直入射情况:加强:相消:劈尖膜(wedgefilm)的干涉ne相邻条纹所对应的厚度差:等厚干涉条纹特点1.条纹级次k随着劈尖的厚度而变化,因此这种干涉称为等厚干涉。条纹为一组平行于棱边的平行线。2.由于存在半波损失,棱边上为零级暗纹。应用一薄膜端部厚度d的测量Ldl薄膜厚度:条纹数测量原理在半导体元件生产中,测定硅片上的二氧化硅薄膜厚度的常用方法是:将薄膜的一部分磨成劈形膜,通过观察垂直入射光在其上面产生的干涉条纹,计算出厚度。说明:?k反映了偏离直线条纹的程度。应用二光学表面检查e?e测量原理P.*/52波动光学§13-4光的相干性一、光源光源(lightsource):发光的物体两大类光源:普通光源激光光源(laser)普通光源按光的激发分为以下几种:热光源:利用热能激发的光源电致发光(electroluminescence):由电能直接转换为光能光致发光(photoluminescence):由光激发引起的发光现象化学发光(chemiluminescence):由化学反应引起的的发光现象普通光源发光的两个特点间歇性(intermitten
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