GBT 32196-2015 无损检测仪器 型号编制方法.docxVIP

ICS19.100

N78

中华人民共和国国家标准

GB/T32196—2015

无损检测仪器型号编制方法

Non-destructivetestinginstruments—Modeldesignationmethod

2015-12-10发布

2016-07-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会

GB/T32196—2015

目次

前言 Ⅲ

1范围 1

2产品型号的组成 1

3无损检测仪器分类、型号与命名 1

3.1概述 1

3.2无损检测仪器分类 1

3.3每小类中组的划分 2

3.4每组中型的划分 2

3.5主参数的确定 2

附录A(规范性附录)各类产品型号编制规则 4

Ⅲ

GB/T32196—2015

前言

本标准按照GB/T1.1—2009给出规则进行起草。

本标准由中国机械工业联合会提出。

本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。

本标准负责起草单位：辽宁仪表研究所、山东省特种设备检测研究院济宁分院、济宁鲁科监测器材有限公司、爱德森(厦门)电子有限公司。

本标准主要起草人：徐波、王延东、马军、林俊明。

GB/T32196—2015

无损检测仪器型号编制方法

1范围

本标准规定了无损检测仪器的型号编制方法。

本标准适用于射线检测仪器、超声检测仪器、电磁(涡流)检测仪器、X射线衍射仪器、荧光光谱仪器、声学检测仪器、应力测定仪器和目视检测装置(设备)等八大类无损检测仪器产品(以下简称产品)的型号编制。

2产品型号的组成

产品型号由以下五部分组成：

I——各大类产品中的小产品；

Ⅱ——各小类产品中的组；

Ⅲ——各组产品中的型；

IV——主参数或规定代号或产品序号；

V——改进序号。

型号中

I用一个大写的汉语拼音字母表示；而金属材料试验机中的硬度计和无损检测仪器中的声学检测仪则用大写英文字头表示。

Ⅱ用一个大写的汉语拼音字母表示；而硬度计、超声探伤仪和声学检测仪则用1～3个大写英文字头表示。

Ⅲ用一个大写的汉语拼音字母表示。

IV表示主参数，一般不超过两项。未确定主参数的产品，用规定代号或统一编排的产品序号表示。V是在I、Ⅱ、Ⅲ、IV不变的前提下，产品结构或性能等有显著改进时使用。第一次改进时用“A”,

第二次改进时用“B”………。以产品序号表示主参数时，V也就不存在。

参数较多时，可能增加“/”标明为多组参数。

3无损检测仪器分类、型号与命名

3.1概述

仪器的分类、型号与命名应符合附录A中表A.1的规定。

3.2无损检测仪器分类

无损检测仪器按检测方法分为：

a)磁粉探伤机；

b)漏磁探伤机；

c)涡流探伤仪；

d)X射线荧光光谱仪；

e)X射线衍射仪；

工

2

GB/T32196—2015

f)X射线应力测定仪；

g)目视检测装置(设备);

h)X射线探伤机；

i)γ射线探伤机；

j)超声探伤仪；

k)声学探伤仪。

等小类(见表A.1中的I)。

3.3每小类中组的划分

3.3.1每小类组的划分应符合表A.1中Ⅱ的规定。

3.3.2磁粉探伤机按磁化电流的种类分为：直流、交流、交直流两用、半波整流、全波整流、多种(磁化电流)、旋转磁场等组。

3.3.3漏磁探伤机按测漏磁传感器的不同形式分为磁针、磁带、检出线圈、半导体磁性检出子、磁通量闸门等组。

3.3.4涡流探伤仪按工作原理分为单频涡流检测仪、多频涡流检测仪、阵列涡流检测仪。

3.3.5荧光探伤仪分固定式和携带式等组。

3.3.6X探伤机分为移动式(固定式)、携带式、工业数字成像X射线装置和加速器(探伤用)等组。

3.3.7γ射线探伤机分固定式和携带式等组。

3.3.8超声探伤仪按显示类别分A型显示、MA型显示、B型显示、P型显示BP型显示和C型显示等组。

3.3.9声学检测仪分为声发射、声全息、声成像、声阻抗等组。

3.4每组中型的划分

3.4.1每组中型的划分应符合附录A中表A.1中Ⅲ的规定。

3.4.2磁粉探伤机分为固定式、移动式和携带式等型。

3.4.3漏磁探伤机的半导体磁性检出子组中，按测漏磁方法设有霍尔式、磁敏式、磁阻式等型；检出线圈组分两种型。其余各组设普通型。

3.4.4涡流检测仪中，各线圈不分型。

3.4.5荧光探伤仪中的各组产品不分型。

3.4.6X射线探伤机按